长鑫存储取得芯片与芯片测试系统专利，能够实现对每个芯片的单独测试lg...

摘要：金融界2024年4月1日消息，据国家知识产权局公告，长鑫存储技术有限公司取得一项名为“芯片与芯片测试系统“，授权公告号CN109164374B，申请日期为2018年9月。专利摘要显示，本公开提供一种芯片和芯片测试系统。芯片具有解码模块和测试模式控制模块，在对输入信号进行解码后判断该输入信号为预激活信号则响应后续测试信号，否则不响应后续测试信号。本公开提供的芯片和芯片测试方法通过设置预激活信号可以在尽量节省I/O接口的条件下使测试设备一次性连接更多芯片，并能够实现对每个芯片的单独测试。