中兴通讯取得光模块劣化测试专利，能确定待测光模块的劣化程度lg...

摘要：金融界2024年2月23日消息，据国家知识产权局公告，中兴通讯股份有限公司取得一项名为“一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质“，授权公告号CN112994786B，申请日期为2019年12月。专利摘要显示，本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。