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三星取得制造可变电阻存储器件的方法专利,能在衬底上形成磁隧道结(MTJ)结构层

2024-02-24 03:56:49
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摘要:金融界2024年2月23日消息,据国家知识产权局公告,三星电子株式会社取得一项名为“制造可变电阻存储器件的方法“,授权公告号CN109786547B,申请日期为2018年11月。专利摘要显示,在一种制造可变电阻存储器件的方法中,在衬底上形成磁隧道结(MTJ)结构层。在蚀刻室中蚀刻该MTJ结构层以形成MTJ结构。通过传送室将其上具有该MTJ结构的衬底传送到沉积室。在所述沉积室中形成覆盖该MTJ结构的侧壁的保护层。所述蚀刻室、传送室和沉积室保持在等于或大于约10。

金融界2024年2月23日消息,据国家知识产权局公告,三星电子株式会社取得一项名为“制造可变电阻存储器件的方法“,授权公告号CN109786547B,申请日期为2018年11月。

专利摘要显示,在一种制造可变电阻存储器件的方法中,在衬底上形成磁隧道结(MTJ)结构层。在蚀刻室中蚀刻该MTJ结构层以形成MTJ结构。通过传送室将其上具有该MTJ结构的衬底传送到沉积室。在所述沉积室中形成覆盖该MTJ结构的侧壁的保护层。所述蚀刻室、传送室和沉积室保持在等于或大于约10。

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