金融界2024年1月8日消息,据国家知识产权局公告,台湾积体电路制造股份有限公司取得一项名为“混合导电结构及其形成方法“,授权公告号CN113517258B,申请日期为2021年2月。
专利摘要显示,本发明描述了一种用于在钴导电结构上方制造钌导电结构的方法。在一些实施例中,该方法包括形成位于介电层中的第一开口,以暴露第一钴接触件;用钌金属填充第一开口,以形成位于第一钴接触件上的钌接触件。该方法还包括:形成位于介电层中的第二开口,以暴露第二钴接触件和栅极结构;用钨填充第二开口,以形成位于第二钴接触件和栅极结构上的钨接触件。另外,该方法包括:形成位于钌接触件和钨接触件上的铜导电结构,其中,来自铜导电结构的铜与来自钌接触件的钌金属接触。本申请的实施例提供了混合导电结构及其形成方法。