厦钨新能申请X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法专利，能够获得完整熔片、测量结果准确且不易腐蚀铂黄坩埚lg...

摘要：金融界2023年12月13日消息，据国家知识产权局公告，厦门厦钨新能源材料股份有限公司申请一项名为“一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法“，公开号CN117214213A，申请日期为2023年9月。专利摘要显示，本发明属于元素检测领域，涉及一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法，包括采用熔剂Ⅰ和非还原性脱模剂Ⅰ对铂黄坩埚的底部进行保护处理，获得护底铂黄坩埚；采用熔剂Ⅱ对护底铂黄坩埚的侧壁进行保护处理，获得护底?护壁铂黄坩埚；将硅氧化物待测样品、助熔剂和添加剂加入护底?护壁铂黄坩埚中高温熔融后冷却，即得熔片；所述添加剂中含有第一氧化剂、第二氧化剂和碱性调节剂，所述第一氧化剂选自高价态金属氧化物、高价态非金属氧化物、金属过氧化物、金属次氯酸盐和金属高氯酸盐中的至少一种，所述第二氧化剂为硝酸盐。本发明提供的方法能够获得完整熔片、测量结果准确且不易腐蚀铂黄坩埚。