全球数字财富领导者

台积电申请栅极全环绕场效应晶体管器件专利,提高半导体器件的性能

2023-12-12 21:50:56
金融界
金融界
关注
0
0
获赞
粉丝
喜欢 0 0收藏举报
— 分享 —
摘要:金融界2023年12月12日消息,据国家知识产权局公告,台湾积体电路制造股份有限公司申请一项名为“栅极全环绕场效应晶体管器件“,公开号CN117219582A,申请日期为2023年6月。专利摘要显示,本公开涉及栅极全环绕场效应晶体管器件。一种形成半导体器件的方法包括:在衬底之上形成半导体鳍结构,其中,半导体鳍结构中的每一个包括在半导体鳍之上的层堆叠,层堆叠包括第一半导体材料和第二半导体材料的交替层;在半导体鳍结构的侧壁和上表面之上形成帽盖层;以及在半导体鳍结构的相反侧、在隔离区域之上形成混合鳍,其中,形成所述混合鳍包括:在隔离区域之上形成电介质鳍;和在电介质鳍之上形成电介质结构,包括:在电介质鳍之上形成蚀刻停止层(ESL);用掺杂剂掺杂所述ESL;以及在经掺杂的ESL之上形成第一电介质材料。

金融界2023年12月12日消息,据国家知识产权局公告,台湾积体电路制造股份有限公司申请一项名为“栅极全环绕场效应晶体管器件“,公开号CN117219582A,申请日期为2023年6月。

专利摘要显示,本公开涉及栅极全环绕场效应晶体管器件。一种形成半导体器件的方法包括:在衬底之上形成半导体鳍结构,其中,半导体鳍结构中的每一个包括在半导体鳍之上的层堆叠,层堆叠包括第一半导体材料和第二半导体材料的交替层;在半导体鳍结构的侧壁和上表面之上形成帽盖层;以及在半导体鳍结构的相反侧、在隔离区域之上形成混合鳍,其中,形成所述混合鳍包括:在隔离区域之上形成电介质鳍;和在电介质鳍之上形成电介质结构,包括:在电介质鳍之上形成蚀刻停止层(ESL);用掺杂剂掺杂所述ESL;以及在经掺杂的ESL之上形成第一电介质材料。

敬告读者:本文为转载发布,不代表本网站赞同其观点和对其真实性负责。FX168财经仅提供信息发布平台,文章或有细微删改。
go